今天是:

主營項目The main project

有問業務聯系江小姐:13829705159 我們恭迎您的來電!

IC晶圓測試

作者:  來源:本站  發表時間:2017/8/23 13:22:35   浏覽:

  晶圓(wafer)測試,引進美國、日本、台灣等先進的測試系統,測試能力強,測試質量穩定可靠。測試類型 
有:數字類、模擬類、數模混合類等。可沒晶圓尺寸有:3英寸、4英寸、5英寸、6英寸、8英寸。可根據客戶要

求制作探針卡,開發晶圓測試程序,設計制作DUT板;研發IC測試主機板。客戶也可以自 
己制作DUT板並到現場上機調試。我司可根據客戶産品特性選用經濟適用的測試平台。

  晶圓測試能力:15000片/月。
  測試項目:接觸測試、功耗測試、輸入漏電測試、輸出電平測試、全面的功能測試、全面的動態參數測試、
       模擬信號參數測試。 
   
  主要測試技術平台:

    V50測試系統

    SCUD-256測試系統 

    V777測試系統
    TR-6800測試系統

    3360P2測試系統

    3196測試系統
    TR-6010測試系統 
    UF200A全自動探針台
    EG2001X全自動探針台

    UV機台


欄目分類Column Class
推薦文章Recommend
ISO9001
DATA:2016-07-17 12:56:09
人工智能、企業服務 創業公司如何...
DATA:2016-07-15 09:38:39
造病毒攻陷三億網民,中國黑客十八...
DATA:2016-07-14 22:53:26
  • 聯系電話:+86(020)66677396
  • 聯系傳真:+86(020)66677925
  • 聯系郵箱:market6@psmc.com.cn
  • 聯系地址:廣州市蘿崗區廣保大道195號物資大廈A座四樓

Copyright © MIS麥 2011-2017 Powered by www.dlbucket.com. All Right Reserved.

  備案號:粵ICP備11042638 號

在線客服